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采用原子力显微镜(AFM)和X射线光电子能谱仪(XPS)研究了氧化铟锡(ITO)/红荧烯(Rubrene)的形貌和表面、界面的电子态。AFM结果显示,ITO上的Rubrene膜有良好的均匀性。XPS结果表明:C1s谱有3个峰,位于282.50,284.70,289.30 eV,对应于C—Si、C O和C—C键。用氩离子束溅射表面,芳香碳对应的峰值逐渐增大,其他两个峰值迅速消失。随着表面O污染的去除...
Tin doped indium oxide thin films were prepared on glass substrates kept at room temperature, by activated reactive evaporation (ARE). Structural, electrical and optical properties were studied for fi...
改变IT0材料通常作为透明导电膜单独使用的状况,将其作为减反射膜系中的一层,能够在很大程度上增加ITO 透明导电膜在可见光部分的透过率.通过使用将ITO 材料置于膜系的 内层和最外层两类不同的设计思想,可以使ITO透明导电膜达到相当优良的应用效果.使用低压反应离子镀方法制备了设计的两类减反射膜系,实验证明,膜层在可见光部分的透过率显著提高,剩余反射率明显下降,并得到了平均透过率为95.83%,最...
2004Vol.42No.5pp.641-644DOI: N-Soliton-like Solution of Ito Equation ZHANG Yi1,2, CHEN Deng-Yuan2 1 Department of Mathematics, Zhejiang Normal University, Jinhua 321004...
Cadmium sulphide (CdS) thin films deposited on indium tin oxide (ITO) substrates were prepared by chemical bath deposition technique by using different conditions to agitate the bath and the substrate...
Cadmium sulphide (CdS) thin films deposited on indium tin oxide (ITO) substrates were prepared by the chemical bath deposition technique at different values of pH and pNH3. This was made in order to a...
用一种特制的纳米研磨粉磨擦方法处理ITO表面,用扫描探针显微镜研究了ITO表面形貌, 发现ITO表面尖峰明显减少, 表面粗糙度降低;研究了ITO处理与没做处理的双层结构有机电致发光器件,发现ITO处理的器件在亮度和效率方面都有明显提高。分析了器件性能提高的原因,认为是由于ITO处理的器件提高了注入载流子并且降低了界面势垒。

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