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Purpose: The X-Ray Photoelectron Spectrometry (XPS) and Auger Electrons Spectroscopy (AES) analysis of PVD
coatings were performed for samples, made from cemented carbides, cermets and composite grad...
XPS和AES研究ACN复合剂在青铜表面上形成的膜
AMT XPS AES
2009/9/11
采用ＸＰＳ和ＡＥＳ方法，研究了含ＡＭＴ的复合物ＡＣＮ处理青铜和含粉状锈青铜的形成膜中组成及成分，结果表明膜中含有Ｎ，Ｓ，Ｃ，Ｏ和Ｃｕ，其中Ｃｕ元素以＋１价存在，且膜中无Ｃｌ元素。
ICP-AES法测定氰化镀银液中的杂质元素
2007/12/25
研究了用HCl 溶液沉淀分离银,用ICP-AES 法同时测定氰化镀银液样品中Cu ,Fe ,Pb ,Ni ,Zn ,Sb 的含量。对影响光谱测量的各种因素进行了研究,确定了测定条件。结果表明,该方法的检出限为0. 003～0. 025μg/ mL ,回收率为96. 07 %～103. 06 % ,RSD 小于3. 44 % ,具有准确、快速、简便的特点,适用于氰化镀银液中杂质元素的测定。