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近日，西安电子科技大学集成电路学部肖明教授发表在《IEEE Electron Device Letters》上的论文《Robust Avalanche in 1.7 kV Vertical GaN Diodes with a Single-Implant Bevel Edge Termination》获2023年度IEEE电子器件学会（EDS）George E.Smith奖，并在电子器件国际顶级会...
近日，信息科学技术学院微纳电子学系2016级博士生陈汪勇（导师杜刚教授，新器件实验室刘晓彦教授杜刚教授研究团队），因其在半导体新器件与电路可靠性模型模拟方面的突出工作，荣获2020年IEEE EDS全球博士生奖学金（IEEE EDS PhD Student Fellowship Award）。
The adhesion of evaporated or sputtered thin films to substrates is one of the most important characterising parameters in their fabrication. It is a conventional method to scratch the films using a s...