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搜索结果: 1-1 共查到物理学 掠入射X射线衍射相关记录1条 . 查询时间(0.138 秒)
Abstract利用掠入射X射线衍射和常规X射线衍射研究了Si(001)上的Ge量子点在不同厚度的Si覆盖层下微结构的变化,同时用AFM研究了其形貌变化.实验结果表明在小的覆盖度下,量子点中组分的变化已十分明显,同时量子点的形状也发生了明显的变化.

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